半導體冷熱沖擊試驗箱現(xiàn)貨
更新時間：2025-11-05
半導體冷熱沖擊試驗箱現(xiàn)貨高程序記憶容量，可設定儲存100組程序，大循環(huán)設定9999 Cycles，每段時間大設定999 Hrs 59Mins。采用進口微電腦大型液晶LCD（302240 Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。
半導體冷熱沖擊試驗箱現(xiàn)貨使用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對高、低溫的反復抵拉力，試驗出產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的認同。 半導體冷熱沖擊試驗箱特點 1）此設備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，采用*之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應用冷熱風路切換方式導入試品中，做冷熱沖擊測試，待測品為不移動之方式。 2）采用原裝日制微電腦大型液LCD（302*240 Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。 3）高程序記憶容量，可設定儲存100組程序，大循環(huán)設定9999 Cycles，每段時間大設定999 Hrs 59Mins。 4）具有RS-232C通信接口裝置，可與計算機聯(lián)機操控/編輯/記錄及二組動態(tài)接點(Time Signal Relay)，使用便捷。 5） 執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2Zone或3Zone之功能。 6） 具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，*由P.L.C鎖定處理。 7）機器故障時，配有自動機回路及警示號。 8） 發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時，具有緊急停機裝置。
半導體冷熱沖擊試驗箱可擴充： 1、溫度記錄器 2、LN2快速降溫控制系統(tǒng) 3、RS-485通信接口裝置，可與個人計算機同時進行局域網(wǎng)絡聯(lián)機監(jiān)控及記錄?？蓴U充：液態(tài)氮低溫輔助系統(tǒng) 2、溫度自動記錄器 3、RS-485多機版局域網(wǎng)絡聯(lián)機監(jiān)控及記錄之軟件。 半導體冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品規(guī)格（mm) 型號:TS -80 工作室尺寸:H×W×D 400×500×400 外形尺寸: H×W×D 1500×1350×1470 型號:TS -100 工作室尺寸:H×W×D 450×500×450 外形尺寸: H×W×D 1550×1450×1550 型號:TS -150 工作室尺寸:H×W×D 500×600×500 外形尺寸: H×W×D 1600×1550×1920 型號:TS -252 工作室尺寸:H×W×D 600×700×600 外形尺寸: H×W×D 1700×1650×2170 型號:TS -480 工作室尺寸:H×W×D 750×800×800 外形尺寸: H×W×D 1850×1750×2270 半導體冷熱沖擊試驗箱現(xiàn)貨符合標準: GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。 SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式 SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式 滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化 GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則 GB/T 2423.22-2002溫度變化 QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則, EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。 GB/T2423.1-2001低溫試驗方法； GB/T2423.2-2001高溫試驗方法；
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