PCT高溫蒸煮試驗(yàn)儀廠家 老化箱
更新時(shí)間：2025-11-05
PCT高溫蒸煮試驗(yàn)儀廠家 老化箱又稱為高壓加速老化試驗(yàn)箱，適用于國防,航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體
艾思荔PCT高溫蒸煮試驗(yàn)儀雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動切斷加熱電源。采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。采用指針顯示正負(fù)壓表；時(shí)間控制器采LED顯示器；自動水位控制器,水位不足時(shí)提供警示。試驗(yàn)過程中水位不足時(shí)能自動補(bǔ)充水位之功能，試驗(yàn)不中斷，確保使用安全。 PCT高溫蒸煮試驗(yàn)儀廠家 老化箱特性： 1、試驗(yàn)過程自動運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束、使用簡便。 2、雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動切斷加熱電源。 3、LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。 4、LED數(shù)字型定時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)完。 5、精準(zhǔn)的壓力、溫度對照顯示。 6、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動排出未飽和蒸汽以達(dá)到佳蒸汽質(zhì)量。 7、試驗(yàn)過程中水位不足時(shí)能自動補(bǔ)充水位之功能，試驗(yàn)不中斷，確保使用安全。 8、鍋內(nèi)安全裝置，鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無法啟動。 9、安全閥，當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過大工作值自動排氣泄壓。 10、門蓋保護(hù)，ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。 11、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。
PCT高溫蒸煮試驗(yàn)儀特點(diǎn)： 1、采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。 2、采用指針顯示正負(fù)壓表；時(shí)間控制器采LED顯示器；自動水位控制器,水位不足時(shí)提供警示。 3、圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。 4、圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品. 5、精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)200h。 6、自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設(shè)計(jì),箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測試門會被反壓保護(hù)。 7、內(nèi)壓力愈大時(shí),箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式完不同,可延長PCT壽命。 8、臨界點(diǎn)LIMIT方式自動安全保護(hù),異常原因與故障指示燈顯示。 9、安全閥，當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過大工作值自動排氣泄壓。 10、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。 PCT高溫蒸煮試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn)： 1、GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件； 2、GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗(yàn)； 3、MIL-STD810D方法502.2； 4、GJB150.9-8溫濕試驗(yàn)； 5、GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn)；
PCT高溫蒸煮試驗(yàn)儀廠家 老化箱儀器用途： PCT高溫蒸煮試驗(yàn)儀又稱為高壓加速老化試驗(yàn)箱，適用于國防,航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。 |
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