PCT試驗箱 高壓加速老化
更新時間：2025-11-05
PCT試驗箱 高壓加速老化測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
溫馨提示：
PCT試驗箱 高壓加速老化用途： PCT試驗箱又稱高壓加速老化試驗箱，適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。 測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間、 試樣限制本試驗設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。
PCT試驗箱的特點： 1、計時安裝，LED數(shù)字型計時器，當鍋內(nèi)溫度達到后計時器確保試驗*，計時從表格1驅(qū)動。 2、Jing準的壓力，溫度表隨時顯示鍋內(nèi)壓力與溫度，Jing準壓力+0、2~2、0kg/cm2、 6、試驗開始前使用真空泵抽真空，將機器原來的空氣抽出并過濾與至新鮮空氣一切完整開始試機。 4、箱內(nèi)經(jīng)過拋光處理經(jīng)久耐用、美觀、不沾污。 5、運轉(zhuǎn)時流水自動排出未飽和蒸汽已達到飽和。 6、異常原因及故障指示燈顯示，設(shè)置自動保護LIMIT安全。
PCT試驗箱 高壓加速老化性能： 1、測試環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、 2、 溫度范圍 105℃ → +132℃、 (控制點) 3、 溫度波動度 ±0、5℃、 4、 溫度偏差 ±2、0℃、 5、 濕度范圍 75% ～ 100 %R、H 、 (控制點) 6、 濕度波動度 ±2、5 %R、H、 7、 濕度均勻度 ±5、0%、 8、 壓力范圍 0、5～2㎏/㎝2 (0、05～0、196 MPa) (控制點) 9、 升溫時間 常溫 → + 132℃ 35 min 、 10、 升壓時間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min
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