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X-謝線鍍層測厚及金屬分析儀/螢光X線膜厚計
更新時間:2024-06-24
FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術標準ASTM及B568,DIN60987, ISO3497的X一射線熒光分析法來進行測量, 下但可以測量金屬層厚度及金屬之間的比重, 還可以進行金屬物料分析。
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